电容表面缺陷检测
使用光源：LTS-RNMU75-BGR+FT5050-G
使用多色光不同角度照射，缺陷位置呈现出不同的颜色，对电容的表缺陷检测比较有利，增加底部光源不同颜色突出产品轮廓。
晶圆表面的字符检测
使用光源：LTS-3COX13752-W
晶圆表面比较光滑，平整的晶圆表面激光雕刻字符，使用垂直均匀光同轴光，使字符轮廓清晰，呈现出明显的对比度。
晶圆弧边倒角检测
使用光源：LTS-2HSL10542-W
晶圆边为圆弧倒角类型，需要高精度测试其最高点与倒角的夹角，采用平行性强的平行集光源，配合高景深的双侧远心镜，边缘清晰。
芯片金线检测
使用光源：LTS-3DM116-W
需要检测芯片与金线连接是否有断，金线为圆柱且不在同一高度，采用彩色相机配合非常均匀的圆顶光源拍摄，成像清晰对比度好。
CPU底座针脚异色
使用光源：LTS-DM154-W+LTS-COX38-CP-W
CPU底座针脚是圆弧状，需要将针脚周围异色检测清楚，不能有金属反光，使用均匀光圆顶组合高精度同轴，呈现出针脚整体均匀，异色清晰明显。
磁柱表面缺陷检测
使用光源：LTS-COXL100-W
磁柱表面有凹坑、划伤、蹦缺等缺陷，使用线阵相机，让产品转动一周，配合同轴线光，能清晰的呈现划伤，凹坑等缺陷，对比度明显，轻微的缺陷都可以很清晰的对比度。
透明晶片轮廓检测
使用光源：LTS-RN9070-W
透明晶片放在治具内，需要检测出晶片的尺寸，由于晶片透明，很难检测出轮廓，使用环形光加偏振，使轮廓边缘清晰，突显出晶片的轮廓。
芯片定位检测
使用光源：LTS-COX38-CP-W
芯片非常小，需要在6倍镜头下才能看到轻微的轮廓，在高倍镜头下普通同轴已经满足不了清晰度了，使用高精度同轴，使芯片轮廓清晰。
